Signals Research Group與思博倫通信、ETS-Lindgren合作，對LTE智能電話的數(shù)據(jù)性能進行空口（OTA）測試

　　CTI論壇(ctiforum)2月12日消息（記者 凡易)：全球網絡、服務及設備測試領域的領導者思博倫通信今天宣布，公司已與Signals Research Group （SRG）和ETS-Lindgren合作，針對商用LTE智能電話的性能，進行第一次獨立的空口（OTA）基準測試和研究。SRG的研究結果展示了OTA測試方法學的特有能力，可顯示出不同商用LTE設備之間明確的數(shù)據(jù)性能差異，并同時確認，性能不佳的智能電話只能以效率低下的方式使用網絡資源，而且會使移動用戶的體驗嚴重惡化。

　　Signals Research Group首席執(zhí)行官Michael Thelander評論道：“即使移動設備采用的是性能極好的芯片組，也會有無數(shù)個因素可能導致智能電話在蜂窩連接性方面性能低下，其中就包括MIMO天線的實施方式等因素。因此我們決定進行此次最新的空口基準測試，因為這可能才是目前全面確定設備性能的最佳方法。”

　　本研究的關鍵結論如下：

　　性能不佳的智能電話會使用戶體驗嚴重惡化，不僅無法高效使用寶貴的網絡資源，還會增加用戶的抱怨。

　　在使用MIMO的情況下，數(shù)據(jù)吞吐量通常要比不使用時高得多，但如果網絡條件不夠理想，該技術所帶來的優(yōu)勢也將大打折扣。

　　盡管尚不足以得出結論，但這項研究發(fā)現(xiàn)，保護蓋會對智能電話的性能產生一定程度的影響，尤其是在使用MIMO時。

　　Thelander 還指出：“我們的研究發(fā)現(xiàn)，在被測智能電話中存在巨大的OTA蜂窩性能差異。”

　　這項研究中包含了MIMO條件下LTE數(shù)據(jù)吞吐性能的OTA測試，涵蓋了業(yè)界中一些最常見的移動設備，而且所有這些設備均使用某一制造商的芯片組。過去的SRG研究在測試中使用的是基于實驗室的傳統(tǒng)方法，提供了關于設備和芯片組性能的寶貴信息，但這類方法并不能提供完整的蜂窩性能全局，而OTA測試則可以做到面面俱到。OTA測試在受控的輻射環(huán)境中執(zhí)行，而在本測試例中使用的是無反射微波暗室。被測設備被置于暗室中的輻射信號中，并且暗室內設置多個探測器，而可能影響蜂窩性能結果的外部因素則被完全隔絕在外面。

　　ETS Lindgren公司高級副總裁Bryan Sayler指出：“OTA測試方法是全面評估LTE設備真實數(shù)據(jù)性能的惟一手段。性能在很大程度上取決于設備的設計，尤其是MIMO等復雜的天線方案。隨著LTE部署繼續(xù)鋪開，我們相信業(yè)界將更加倚重以空口方式測試設備的性能，而使用的正是類似于此次SRG所用的方法。”

　　思博倫通信副總裁Nigel Wright表示：“我們非常高興與SRG和ETS合作，充分展示OTA測試方法所實現(xiàn)的增值能力 ，而這一方法將對用戶的總體體驗做出精確的評價，并且最終實現(xiàn)更好的體驗。在對使用同一廠商芯片組的商用設備進行基準測試的過程中，我們發(fā)現(xiàn)，使用性能最佳的芯片組并不能保證性能最佳的移動設備。在驗證LTE設備性能的過程中，業(yè)界面臨著巨大且復雜的挑戰(zhàn)，只有解決了這一問題，才能確保成功的商用推廣。”

　　這項研究使用了思博倫的CS8 LTE網絡仿真器、VR5信道仿真器、Spirent DatumLab服務器，以及ETS Lindgren的全新AMS-8055 MIMO單集群環(huán)境模擬器，并由此形成了一個成本效益極高的OTA測試環(huán)境。所有參與評測的設備均為公開上市產品。本項研究中所涉及的手機制造商在事前均不知悉研究，并且在報告公布后才首次了解研究的結果。